SEM 2000; Scanning Electron Microscopy - Imaging and Microanalysis

Titeln syftar på en tredagarskurs i SEM som hölls 17-19 oktober 2000 och arrangerades av "Mikroskopi och mikroanalys"-gruppen på Experimentell Fysik vid Chalmers tekniska högskola i Göteborg. Innehållet var en blandning av föreläsningar ledda av företrädare för "industri" och universitet, samt demonstrationer av instrument medtagna av tillverkare. I kursen deltog ett femtiotal personer från olika företag och ett tjugotal representanter för olika tillverkare av mikroskop och analysutrustning, samt ett par föreläsare från olika universitet. En sammanfattning av de föredrag som hölls presenteras i denna rapport.