Equivalent initial flaw sizes by different methods

Som en del i ett GARTEUR projekt med titeln ´The Initial Flaw Concept and Short Crack Growth" har en "round robin" undersökning genomförts. Syftet med undersökningen var att bestämma ekvivalenta initialsprickor (EIFS) för två uppsättningar utmattningsdata genom att använda olika metoder. Utmattningsdata och nödvändiga materialdata tillhandahölls av BAe Airbus, UK. Den generella metod som använts för att utvärdera EIFS är tillbakaextrapolering av spricktillväxten från den kritiska sprickstorleken till sprickstorleken (EIFS) som motsvarar tidpunkten noll. Fyra olika typer av tillbakaextrapolering har använts. Paris lag med två olika parameteruppsättningar, det invers tangens hyperboliska sambandet kombinerat med US Airforce "initialkvalitetsmodell" samt slutligen Paris lag kombinerad med spricksluting enligt "strip yield" modellen. Beräknade EIFS uppvisar en inverkan av spänningsnivån oberoende av metod. Vidare så blev beräknade EIFS extremt små för de lägsta spänningsnivåerna. Anpassning av Weibull- alternativt Lognormalfördelning till beräknade EIFS-fördelningar var möjligt med relativt god noggrannhet. Monte Carlo simuleringar baserade på de anpassade fördelningarna visade att de experimentella resultaten inte kunde återskapas.